Планшетный сканер Epson Perfection V800 Photo

С помощью нового планшетного сканера для пленки и фотографий Epson Perfection V800 Photo вы сможете преобразовать коллекции снимков и пленок в цифровые архивы профессионального качества. Благодаря качественной оптике, большой области сканирования, поддержке большого количества форматов пленки и дополнительным функциям удаления пыли и царапин, новый сканер Epson занимают лидирующие позиции в своем сегменте.

Высокая продуктивность нового сканера обеспечена технологией Epson ReadyScan LED, благодаря которой устройство разогревается менее чем за минуту и мгновенно готово к началу сканирования. Светодиодные источники света практически не нагреваются при работе и поэтому полностью безопасны для самых деликатных материалов. Epson ReadyScan LED также способствует значительному снижению энергопотребления.

Epson Perfection V800 Photo обеспечивают профессиональное качество и высокую продуктивность в работе с широким ассортиментом пленок, включая пленку и слайды 35 мм, средний формат и формат 9?12 см.

Улучшенная конструкция держателей для пленки дает пользователям возможность более точно настраивать высоту держателя, регулируя таким образом положение точки фокусировки и добиваясь большей четкости. Новые держатели также снабжены специальными пластинами, которые прижимают пленку к стеклу и помогают избежать появления колец Ньютона при сканировании.

Устройство снабжено двумя линзами, которые позволяют сканировать оригиналы с большим оптическим разрешением 6400dpi для пленки и 4800dpi для фотографий. Необходимую линзу аппарат в каждом случае выбирает автоматически. Высокая оптическая плотность 4,0 DMax позволяет сканеру точно воспроизводить широкий спектр оттенков, особенно на затемненных участках оригиналов.

Модель снабжена технологией Digital ICE, которая помогает избавиться от различных дефектов при сканировании пыли, волосков, царапин, отпечатков пальцев, сгибов и др., — помогая пользователям экономить время на ручной ретуши. Технология ICE использует сочетание инфракрасного излучения и сложных алгоритмов для обнаружения и удаления дефектов пленки.